2025重庆芯片测试技术研讨会:揭示行业未来发展新趋势
- 型号:LDX-K3050
- 输出电压:0-30V 输出电流:0-50A
- 来源:BOB.COM
- 发布时间:2025-04-30 21:31:09
- 在当今科技迅猛发展的背景下,芯片技术已成为推动智能设备创新的核心力量。伴随着万物互联、AI和5G
在当今科技迅猛发展的背景下,芯片技术已成为推动智能设备创新的核心力量。伴随着万物互联、AI和5G等新兴技术的不断崛起,对芯片的需求显得愈加迫切,芯片的复杂性和集成度均呈指数级增长。因此,提升芯片测试技术迫在眉睫,成为行业发展的关键瓶颈与核心趋势。
在此背景下,2025年4月9日(周三)13:00—17:00,重庆圣荷酒店8F会议室将迎来一场由是德科技和安诚讯飞共同主办的“芯片测试前沿技术研讨会”。此次活动不仅是资源与思想的交流,更是推动测试技术创新的重要契机。
随着芯片复杂度的一直上升,高精度、高可靠性已成为芯片行业应对智能化时代挑战的核心竞争力。这一技术能力不仅是支撑汽车电子、医疗设施等关键领域创新的基石,更是提升产品可靠性与使用者真实的体验的重要保障。本次研讨会将重点聚焦于解决芯片研发全生命周期中的测试痛点,提出涵盖设计验证、原型测试、量产测试以及可靠性评估的端到端解决方案,助力企业全方面提升效率,实现质量闭环。
宽禁带半导体材料与功率器件作为能量转换与控制的关键组件,其性能直接影响到电力电子系统的能效、可靠性与安全性。因此,在这一主题下,会议将通过高精度仪器、标准化测试流程及智能化分析软件,探讨如何有效优化器件设计、提升系统效率并降低故障风险。
电源是电子科技类产品正常运作的基础,电源部件却是大多数电子科技类产品故障的根本原因。在高速数字电路中,电源完整性测试一直以来都是一大难题,尤其在数字信号速率提升至Gbps以上时,电源完整性测量显得很不可或缺。本次会议将介绍电源完整性的概念、测试方法及测量技巧,为与会者提供实用的解决方案。
在芯片及半导体测试中,面对高带宽、动态微小电流和电压的测量问题,我们将展示多种测试手段及方案,比较它们的优缺点以及适应应用场景,使得参会者对怎么样做精确测量有更深入的理解。
研讨会欢迎各类电子从业者与工程师参会。特别提醒的是,针对对本次主题感兴趣的非专业人士,将根据报名情况做筛选。会议提供部分免费参会名额,座位有限,请务必提前确认。
此次活动由是德科技与安诚讯飞共同主办,双方在测试测量技术领域均有显著的积累与贡献。是德科技作为行业领导者,凭借超过75年的专业方面技术经验,致力于为电子设计、测试、测量与优化提供突破性解决方案。安诚讯飞则作为是德科技的授权技术合作伙伴,专注于测试测量行业的发展,旨在为更多用户更好的提供本地化的技术服务。
不要错过这个难得的机会,4月9日,让我们相聚美丽的重庆,一同探讨芯片测试技术的未来发展之路!扫名,期待您的到来。返回搜狐,查看更加多
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